品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 能源,电子,交通,航天,电气 |
物理实验设备的产品特点
1.半导体能带理论、载流子运动规律的实验展示:示波器上观察动态显示的光电导变化信号,有助于直观理解过剩载流子的产生、复合过程。
2.工业标准检测仪器测试原理和方法的教学呈现:仪器参照国家标准设计制造,内部结构可视、直观,重点突出教学内容。
3.是太阳能电池原理实验的有益补充。
4.激光光源和微波均在样品台下方,故在放置样品时,不会对处于样品台上的样品形成视觉阻挡或干扰。
5.可对光强或光子面密度进行定量调节,进而可定量地研究光强对测量复合寿命的影响,及验证S-R-H模型的正确。
实验内容
1.研究表面钝化对复合寿命测量的影响
2.研究注入水平对复合寿命测量的影响
3.验证S-R-H模型的正确性并推算少子寿命
4.计算非平衡载流子的扩散系数和扩散长度
5.测量复合寿命的分布(选做)
知识点:非平衡载流子的产生和复合、复合寿命、少子寿命、表面复合、爱因斯坦方程、扩散长度。
物理实验设备的技术指标
本实验装置主要是由数字式硅片少子寿命实验仪、钝化剂、P型硅片、N型硅片等组成。
1.工作条件:温度0℃~40℃;相对湿度≤90%RH;大气压力86kPa~106kPa;电源电压~220(1±10%)V,电源频率~50(1±5%)Hz。
2.复合寿命测量范围:0.5us~30ms。
3.电阻率下限:≤1.0Ω∙cm。
4.测量重复性:3%。
5.数字式硅片少子寿命实验仪
(1)微波中心频率:10.5GHz。
(2)脉冲激光:中心波长905nm,安装于样品台下方,光强可调节。
(3)激光电源:脉宽200ns,频率30Hz,下降沿≤50ns。
(4)样品台:含二维刻度尺,范围均为−80mm~+80mm,分度值1mm,带红外滤光片,下方安装激光源和微波源。
(5)光子面密度:4位数字显示,旋钮定量调节,单位:1013光子数/cm2,可定量地研究光强对测量复合寿命的影响和验证S-R-H模型。
(6)电源:~220V/50Hz。
6.钝化剂:100mL、浓度0.08mol/L碘乙醇钝化剂。
7.硅片盒:用于放置P型、N型硅片,6英寸透明圆盒,尺寸Φ180×43mm。
8.专用实验软件:
(1)具有用户自定义修改配置文件的功能,以匹配不同的示波器。
(2)具有数据导入,数据或曲线导出功能。
(3)具有实验数据自动计算功能,方便使用者快速得到实验结果(如注入水平、复合寿命等)。
(4)具有指数曲线拟合、线性拟合功能,并能自动计算出拟合参数。
(5)在衰减曲线图形界面,可根据需要显示或隐藏原始数据或拟合数据,以及重要的参数点。
(6)具有错误提示功能,并给出可能的错误原因。
(7)实验辅助功能,软件集成实验说明书和软件使用手册,方便使用者在PC端快速查阅。
(8)软件可生成实验报告,结合学生信息录入功能,方便进行教学管理。
产品组成
序号 | 名称 | 编号 | 数量 | 备注 |
1 | 数字式硅片少子寿命实验仪 | 1套 | 含电源线1件 | |
2 | 钝化剂 | 1件 | 含滴管1件 | |
3 | 收纳盒 | 1件 | ||
4 | N型硅片 | 1片 | ||
5 | P型硅片 | 1片 | ||
6 | 同轴线 | 2件 | 两端BNC头,线长1000mm | |
7 | 硅片盖 | 1件 | ||
8 | 光盘 | 1件 |
用户自备设备
1.40MHz数字存储示波器(通道数≥2)1台/套
2.电脑至少每个实验室1件(要求:P4双核或以上档次CPU、内存2G或以上、MicrosoftExcel2003或以上版本、WindowsXP/SP3、Windows7、8、10操作系统)
选配件
无
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